高(gao)低(di)溫(wen)交變(bian)濕(shi)(shi)熱試(shi)驗(yan)箱。本設(she)備(bei)可(ke)用(yong)于模擬高(gao)溫(wen)、低(di)溫(wen)、濕(shi)(shi)熱等環境條件(jian)模擬,用(yong)于航空、航天、汽(qi)車、造船、信息、軍事、電子(zi)、新能源等領域材(cai)料、元器(qi)件(jian)、組件(jian)、部(bu)件(jian)、儀器(qi)儀表及小型設(she)備(bei)的(de)環境可(ke)靠性試(shi)驗(yan),高(gao)溫(wen)、低(di)溫(wen)、濕(shi)(shi)熱等存儲、循環試(shi)驗(yan)。
恒(heng)溫恒(heng)濕試(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)(xiang)為(wei)立式(shi)結構:由試(shi)(shi)驗(yan)室體、風(feng)道系統、加(jia)熱系統,制(zhi)(zhi)冷(leng)除濕系統,加(jia)濕系統,電器控制(zhi)(zhi)等組成,電氣控制(zhi)(zhi)板及儀表在箱(xiang)(xiang)體后部,制(zhi)(zhi)冷(leng)系統在箱(xiang)(xiang)體下部,中部為(wei)工作室,加(jia)熱器、加(jia)濕出口位(wei)于風(feng)道內(nei)。
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